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| 本發明涉及一種測量光波粒二象性的裝置，實現對光波粒二象性的驗證和觀察。提出了一種結構簡單、易于構建、抗干擾性強、易于觀察測量結果的光波粒二象性的觀測裝置。該裝置由單光子源、光環型器、Ｘ型光分路／合路器依次連接構成，另外再配以兩個單光子探測計數器。其物理基礎是：測量粒子性時，利用了光子經Ｘ型光分路／合路器時的路徑隨機選擇特性，突出顯示經典粒子運動軌道、軌跡的特征；測量波動性時，利用了Ｓａｇｎａｃ干涉儀，光子在Ｘ型光分路／合路器再次相遇時的疊加特性，突出顯示經典波的干涉特征。 |
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全光纖型光波粒二象性測量裝置
全光纖型光波粒二象性測量裝置其特征在于：包括依次連接的單光子源１、光環型器２、Ｘ型光分路／合路器３。其中單光子源１的輸出端連接光環型器２的同向輸入端２ａ；光環型器２的同向輸出端２ｂ連接Ｘ型光分路／合路器３的尾纖端口３ａ；光環型器２的反向輸出端２ｃ、Ｘ型光分路／合路器３的尾纖端口３ｂ可同時懸空，也可同時分別連接單光子探測計數器Ａ、Ｂ；Ｘ型光分路／合路器３的尾纖端口３ｃ、３ｄ可同時分別連接單光子探測計數器Ａ、Ｂ，也可直接相連接。
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| 專利號: |
200810114201 |
| 申請日: |
2008年6月2日 |
| 公開/公告日: |
2008年10月8日 |
| 授權公告日: |
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| 申請人/專利權人: |
北京郵電大學 |
| 國家/省市: |
北京(11) |
| 郵編: |
100876 |
| 發明/設計人: |
馬海強、于麗 |
| 代理人: |
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| 專利代理機構: |
() |
| 專利代理機構地址: |
() |
| 專利類型: |
發明 |
| 公開號: |
101281064 |
| 公告日: |
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| 授權日: |
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| 公告號: |
000000000 |
| 優先權: |
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| 審批歷史: |
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| 附圖數: |
1 |
| 頁數: |
4 |
| 權利要求項數: |
1 |
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