光電集成芯片vi測試源表型號、規格、價格、廠家等信息，認準武漢生產廠家普賽斯儀表，國產自主研發，性價比高，測試范圍更廣，輸出電壓高達300V，支持USB存儲，一鍵導出報告，符合大環境下國內技術自給的需求，可及時與客戶溝通，為客戶提供高性價比系統解決方案，及時指導客戶編程，加速測試系統開發，詳情請聯系普賽斯儀表銷售專員為您解答一八一四零六六三四七六

產品簡介

S系列源表是普賽斯歷時多年打造的高精度、大動態范圍、數字觸摸的率先國產化的源表，集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，大輸出電壓達300V，小測試電流達100pA，支持四象限工作，因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中:半導體IC或元器件，功率器件，傳感器，有機材料與納米材料等特性測試和分析。

光電集成芯片vi測試源表特點

5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作

內置強大的功能軟件，加速用戶完成測試，如LIV、PIV

源及測量的準確度為0.1%，分辨率5數位

四象限工作（源和肼），源及測量范圍：電流100pA~1A，電壓0.3mV~300V

豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數掃描及用戶自定義掃描

支持USB存儲，一鍵導出測試報告

支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網

光電集成芯片vi測試源表技術參數

大輸出功率：30W，4象限源或肼模式；

源限度：電壓源：±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；

電流源：±1.05A（≤30V量程），±105mA（≤300V量程）；

過量程： 105%量程，源和測量；

穩定負載電容：<22nF；

寬帶噪聲(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV Vp-p（典型值）；

線纜保護電壓：輸出阻抗1KΩ，輸出電壓偏移<80uV；

大采樣速率：1000 S/s；

觸發：支持IO觸發輸入及輸出，觸發極性可配置；

輸出接口：前后面板香蕉頭插座輸出，同一時刻只能用前或者后面板接口；

通信口：RS-232、GPIB、以太網；

電源：AC 100~240V 50/60Hz；

工作環境：25±10℃；

尺寸：106mm高 × 255mm寬 × 425mm長；

光電集成芯片vi測試源表應用

l 分立半導體器件特性測試，電阻、二極管、發光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC、GaN等器件；

l 能量與效率特性測試，LED/AMOLED、太陽能電池、電池、DC-DC轉換器等

l 傳感器特性測試，電阻率、霍爾效應等

l 有機材料特性測試，電子墨水、印刷電子技術等

l 納米材料特性測試，石墨烯、納米線等